晶圆自动测试软件可以控制自动探针台移动,控制配套仪器测量所需要的电学参数,对测量数据及坐标进行数据存储,可实时显示测量结果或对测量数据进行统计分析。
系统界面友好,操作简单,多种Wafer Map生成方式,可设置不同的测试条件和多路同时测量,数据自动存成所需要的格式。
1.支持自动从ADS,Cadence等各类主流EDA软件或CAD工具中导出Wafer Map.
2.支持手动编辑Wafer Map。
3.支持GPIB,LAN,USB,串口等各类通信接口。配套的自动测试主机已为你配置好各种驱动,通信协议和参数,让你即插即用。
4.支持多种探针台和测试仪表。
5.支持数据后处理和统计分析。