晶圆测试（Wafer CP Test）

由自动探针台和多种电学测试仪器并搭配自动控制分析软件实现器件多参数指标测量。

能为你做

针对客户提供完整的晶圆射频性能测试服务，包括测试方案制定、程序开发和批量测试等服务。

目前公司有手动/自动探针测试台，及动态晶圆级测试系统，可覆盖Analog,Digital,Mixed singal,Memory,RF,Power device等各类集成电路测试服务。